为充分利用科研仪器资源，助力相关领域学术研究与技术创新，分析测试中心现面向全校师生师生，免费开放X射线光电子能谱仪（PHI GENESIS 500型）使用服务，具体事项通知如下：

  一、主要规格及技术指标

1. 配备单色化Al Ka X射线源系统、能量分析器和探测器、双束荷电中和系统、全自动五轴样品台、氩离子刻蚀枪

2.大束斑性能：对Ag3d5/2峰，能量分辨≤1.0 eV、光源功率≤100 W条件下，计数率强度≥6 Mcps；

3. 微区分析性能（束斑≤10 µm）：能量分辨≤0.6 eV时，计数率强度≥50 Kcps（分析功率≤1.3W）；能量分辨≤1.0 eV时，计数率强度≥100 Kcps（分析功率≤1.3W）；

4. 微区分析性能（束斑≤20 µm）：能量分辨≤0.6 eV时，计数率强度≥200 Kcps（分析功率≤5W）；能量分辨≤1.0 eV时，计数率强度≥400 Kcps（分析功率≤5W）；

5. 测试功能：支持点分析、线扫描、面分析、化学态成像、深度剖析、变角AR-XPS；最小获谱束斑≤5.0 µm，无光阑遮挡，X射线功率≤1.3 W时可实现采谱、成像及深度剖析。

  二、主要功能及特色

1. 元素定性分析：可检测除氢（H）、氦（He）以外的所有元素，凭借元素专属特征电子结合能实现精准识别；

2. 元素半定量分析：精准测量样品表面各元素的相对原子浓度与质量浓度；

3. 化学态分析：通过检测内层电子结合能的“化学位移”，分析元素化学价态及成键情况（氧化态、配位环境）；

4. 深度剖析：结合氩离子溅射技术，逐层剥离样品表面并同步分析，获取元素及化学态的深度分布信息；

5. 成像分析：通过扫描X射线束或专用探测器，生成特定元素或化学态的表面空间分布图像。

  三、送样要求

1. 样品需无毒、无放射性、无挥发性，含磁性的样品需提前沟通确认；

2. 真空兼容：样品在高真空（最高可达10⁻¹⁰mbar）环境下需稳定，不挥发、不分解、不释放气体；

3. 表面洁净：待测表面需能代表研究状态，且无污染物。

  样品形态与制备要求

1. 块体/片状样品：理想尺寸1cm×1cm左右，厚度≤18mm；送样前用无水乙醇超声清洗并吹干，避免手或金属镊子直接触碰待测表面；

2. 粉末样品：少量装袋，或均匀分散于乙醇中滴至洁净金属箔（铜箔、金箔等）或硅片上，待溶剂完全挥发干透，确保真空下不挥发、不脱落；

3. 薄膜/涂层样品：需注明薄膜材质、大致厚度及衬底材料，确保薄膜与衬底结合牢固，无起皮、脱落风险。

  严禁送样类型

1. 挥发性物质：液体（溶液、油、离子液体等）、易升华固体（碘、萘等）、含溶剂或水分的样品；

2. 强磁性样品：钕铁硼磁铁、铁

钴镍块体等强磁性物质（含Fe、Co、Ni元素的弱磁/无磁化合物需提前沟通）；

3. 有毒与放射性样品：剧毒物质、生物毒素、传染性病原体、放射性材料。

  信息提供要求

送样时需提交详细样品信息单，包含：

1. 基本信息：样品名称、编号、材质、主要成分、待测表面处理历史（抛光、腐蚀、镀膜等）；

2. 测试需求：目标分析元素（全谱扫描/特定元素高分辨谱）、是否需要深度剖析（说明溅射深度/时间）、重点关注区域或化学态；

3. 安全提示：如实告知样品潜在危险（毒性、磁性、挥发性等）。 

  四、其他说明

1.  请使用者提前与负责人高艳芳联系，联系电话：18841498751，沟通样品适配性及测试需求，统筹安排使用时段；

2. 样品需严格符合送样要求，若因样品不符合规定导致仪器故障或测试延误，由送样方承担相应责任；

3. 使用过程中需遵守仪器操作规范，服从中心工作人员指导，爱护仪器设备。

特此通知。

分析测试中心

2025年11月14日